使用针床来做电路测试会有一些机构上的先天上限制，比如说：
1、探针的小直径有一定极限，太小直径的针容易折断毁损。
2、某些高零件的旁边无法植针。如果探针距离高零件太近就会有碰撞高零件造成损伤的风险，另外因为零件较高，通常还要在测试治具针床座上开孔避开，也间接造成无法植针。
3、针间距离也有一定限制，因为每一根针都要从一个孔出来，而且每根针的后端都还要再焊接一条排线，如果相邻的孔太小，除了针与针之间会有接触短路的问题，排线的干涉也是一大问题。
4、电路板上越来越难容纳的下所有零件的测试点。由于板子越来越小，测试点多寡的存废屡屡被拿出来讨论，现在已经有了一些减少测试点的方法出现，如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG…等;也有其它的测试方法想要取代原本的针床测试，如AOI、X-Ray，但目前每个测试似乎都还无法100%取代ICT
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